多功能X射線衍射儀是一種高性能多功能的粉晶X射線衍射儀，它采用了理學的CBO交叉光學系統，一臺儀器可以進行從普通粉末樣品到包括In-Plane在內的薄膜樣品測試。采用組合式結構，通過對各個單元的不同組合，可以進行各種測試。
可以廣泛應用于各種材料結構分析的各個領域。
可以分析的材料包括：金屬材料、無機材料、復合材料、有機材料、納米材料、超導材料
可以分析的材料狀態包括：粉末樣品、塊狀樣品、薄膜樣品、微區微量樣品
多功能X射線衍射儀的主要優勢：
1、直接傳動高精度轉矩馬達與優良的光學編碼器相結合，確保了儀器的傳動速度和精度；
2、全部組件可以拆分為7個模塊，同時可以在5個獨立自由度上檢測樣品，適用于粉末、薄膜和塊狀樣品；
3、可以進行常規的晶相識別和定量，可以分析晶體尺寸、晶格應變及結晶度的計算；
4、可以定量分析殘余奧氏體、多晶物篩查、晶體結構分析、殘余應力分析、薄膜分析、深度剖析、相變紋理和優先取向、納米粒子分析；
5、光學系統可以在 Bragg-Brentano 聚焦和 Johansson 或拋面鏡單色器自由切換；
6、高分辨的反射技術，讓檢測厚度至1-500nm，幾何平行光束采用了小反射角和薄膜附件，從而可以進行薄膜或層次分析；
7、將拋面鏡單色器與晶體開槽技術有機結合，并安裝在入射光束上，可以獲得高強度、低散射適合高分辨率測量的平行單色光；
8、強大、簡便的操作軟件使得檢測工作更加簡單，軟件同時具有其他進階功能，可以幫助用戶對復雜的譜圖進行分析。
微信掃一掃
訪問手機端