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來談?wù)刋射線熒光光譜分析的基本原理

更新時(shí)間:2019-07-16       點(diǎn)擊次數(shù):1920
       X射線熒光光譜分析通過將可選項(xiàng)的精度管理型軟件進(jìn)一步升級(jí),并使之成為標(biāo)準(zhǔn)配備,實(shí)現(xiàn)了低價(jià)格化。與以往儀器相比,環(huán)境管制物質(zhì)的測量時(shí)間大幅縮短,材料辨識(shí)功能、分析線切換功能、清晰易懂的操作面板易用性大大提高,分析速度更快,操作更簡單。
  X射線熒光光譜分析是一種常用的分析儀器,主要由激發(fā)源和探測系統(tǒng)構(gòu)成。
  基本原理就是:
  X射線管通過產(chǎn)生入射X射線(一次X射線),來激發(fā)被測樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會(huì)放射出二次X射線(又叫X熒光),并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量或者波長。然后,儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量。元素的原子受到高能輻射激發(fā)而引起內(nèi)層電子的躍遷,同時(shí)發(fā)射出具有一定特殊性波長的X射線,因此,只要測出熒光X射線的波長或者能量,就可以知道元素的種類,這就是熒光X射線定性分析的基礎(chǔ)。此外,熒光X射線的強(qiáng)度與相應(yīng)元素的含量有一定的關(guān)系,據(jù)此,可以進(jìn)行元素定量分析。用X射線照射試樣時(shí),試樣可以被激發(fā)出各種波長的熒光X射線,需要把混合的X射線按波長(或能量)分開,分別測量不同波長(或能量)的X射線的強(qiáng)度,以進(jìn)行定性和定量分析,為此使用的儀器叫X射線熒光光譜分析。由于X熒光具有一定波長,同時(shí)又有一定能量,因此,X射線熒光光譜分析有兩種基本類型:波長色散型和能量色散型。